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그라운드 바운스 영향과 지연고장을 위한 최소화된 테스트 패턴 생성 기법
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| DC Field | Value | Language |
|---|---|---|
| dc.contributor.author | 김문준 | - |
| dc.contributor.author | 장훈 | - |
| dc.contributor.author | 이정민 | - |
| dc.date.available | 2018-05-10T18:09:48Z | - |
| dc.date.created | 2018-04-17 | - |
| dc.date.issued | 2004-11 | - |
| dc.identifier.issn | 1229-6368 | - |
| dc.identifier.uri | http://scholarworks.bwise.kr/ssu/handle/2018.sw.ssu/20130 | - |
| dc.description.abstract | 본 논문에서는 ground bounce 영향과 지연고장 검출을 함께 고려한 효율적인 보드레벨 연결선 테스트 생성 알고리즘을 제안한다. 제안된 알고리즘은 IEEE 1149.1의 연결선 테스트, ground bounce 영향에 의한 바운더리 스캔의 오동작 방지, 그리고 연결선의 지연고장 검출 능력을 포함한다. 본 논문에서 제안하는 기법은 기존의 기법에 비해 연결선의 지연고장 검출능력을 새롭게 추가하였지만, 연결선 테스트에 필요한 총 테스트 패턴 수는 기존의 기법과 비교해서 큰 차이를 보이지 않음을 실험결과에서 확인할 수 있다. | - |
| dc.language | 한국어 | - |
| dc.language.iso | ko | - |
| dc.publisher | 대한전자공학회 | - |
| dc.relation.isPartOf | 전자공학회논문지 - SD | - |
| dc.subject | IEEE 1149.1 | - |
| dc.subject | Interconnect Test | - |
| dc.subject | Ground Bounce | - |
| dc.subject | Delay Fault Test | - |
| dc.subject | IEEE 1149.1 | - |
| dc.subject | Interconnect Test | - |
| dc.subject | Ground Bounce | - |
| dc.subject | Delay Fault Test | - |
| dc.title | 그라운드 바운스 영향과 지연고장을 위한 최소화된 테스트 패턴 생성 기법 | - |
| dc.title.alternative | A Minimized Test Pattern Generation Method for Ground Bounce Effect and Delay Fault Detection | - |
| dc.type | Article | - |
| dc.type.rims | ART | - |
| dc.identifier.bibliographicCitation | 전자공학회논문지 - SD, v.41, no.11, pp.1033 - 1042 | - |
| dc.identifier.kciid | ART000941691 | - |
| dc.description.journalClass | 2 | - |
| dc.citation.endPage | 1042 | - |
| dc.citation.number | 11 | - |
| dc.citation.startPage | 1033 | - |
| dc.citation.title | 전자공학회논문지 - SD | - |
| dc.citation.volume | 41 | - |
| dc.contributor.affiliatedAuthor | 장훈 | - |
| dc.identifier.url | https://www.kci.go.kr/kciportal/ci/sereArticleSearch/ciSereArtiView.kci?sereArticleSearchBean.artiId=ART000941691 | - |
| dc.description.isOpenAccess | N | - |
| dc.subject.keywordAuthor | IEEE 1149.1 | - |
| dc.subject.keywordAuthor | Interconnect Test | - |
| dc.subject.keywordAuthor | Ground Bounce | - |
| dc.subject.keywordAuthor | Delay Fault Test | - |
| dc.subject.keywordAuthor | IEEE 1149.1 | - |
| dc.subject.keywordAuthor | Interconnect Test | - |
| dc.subject.keywordAuthor | Ground Bounce | - |
| dc.subject.keywordAuthor | Delay Fault Test | - |
| dc.description.journalRegisteredClass | kci | - |
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Related Researcher
- CHANG, HOON
- College of Information Technology (School of Computer Science and Engineering)