고온고습 시험을 통한 태양전지의 장기 신뢰성에 관한 연구Study on the Long-term Reliability of Solar Cell by High Temperature & Humidity Test
- Authors
- 강민수; 신영의; 전유재; 김도석
- Issue Date
- 2012
- Publisher
- 한국에너지학회
- Keywords
- PV module; Solar Cell; Bare Cell; High temperature & humidity test; EL; I-V; Fill Factor; PV모듈; Solar Cell; Bare Cell; 고온고습 시험; EL; I-V; Fill Factor
- Citation
- 에너지공학, v.21, no.3, pp 273 - 278
- Pages
- 6
- Journal Title
- 에너지공학
- Volume
- 21
- Number
- 3
- Start Page
- 273
- End Page
- 278
- URI
- https://scholarworks.bwise.kr/cau/handle/2019.sw.cau/35437
- ISSN
- 1598-7981
- Abstract
- 본 연구는 고온고습 시험을 통하여 Cell 레벨에서의 표면관찰 및 효율저하를 분석하였다. 고온고습 시험조건은 KS C IEC-61215에서 제시한 PV 모듈하의 조건을 이용하여 온도 85℃, 습도 85%, 1000hr 동안 수행하였다. EL(Electroluminescence)촬영을 통하여 Cell 표면의 이상 유·무를 분석한 결과, 시간이 경과함에 따라, 부분적으로 표면이 손상되어 변색되는 것을 확인하였다. 고온고습 시험 전 단결정 Cell 및 다결정 Cell의 효율은 각각 17.7%, 15.5%였으며, 1000hr 수행 후 15.6%, 14.0%로 각각 11.9%와 9.3%의 감소율을 보였다. 또한, 경년 시 나타나는 전기적 특성을 분석하기 위하여 FF(Fill Factor)값을 분석한 결과, 고온고습 시험 후 단결정Cell은 78.7%에서 75.0%로 4.7%, 다결정 Cell은 78.1%에서 76.7%로 1.8%의 감소율을 보였다. 태양전지 실리콘의 원자배열 및 순도에 따라 효율 변화에 영향을 받아 단결정 Cell이 다결정 Cell보다 효율저하가 크게나타났다고 판단된다. 또한, FF감소율보다 효율 감소율이 크게 저하된 것을 확인할 수 있었으며, 이는 Cell의외부환경적 요인에 의한 표면 손상이 p-n접합층 접촉저항과 경년 시 나타나는 FF 감소율보다 크게 영향을준 것으로 판단된다.
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