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KCI
AMBA 기반 SoC의 병렬 코어 테스트를 위한효과적인 테스트 설계 기술
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송재훈; 오정섭; 박성주
Article
Issue Date
2011
Citation
전자공학회논문지 - SD, v.48, no.2, pp.44 - 54
Publisher
대한전자공학회
KCI
Redundancy TSV 연결 테스트를 위한 래퍼셀 설계
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김화영; 오정섭; 박성주
Article
Issue Date
2011
Citation
전자공학회논문지 - SD, v.48, no.8, pp.18 - 24
Publisher
대한전자공학회
KCI
TSV 기반 3D IC Pre/Post Bond 테스트를 위한IEEE 1500 래퍼 설계기술
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오정섭; 정지훈; 박성주
Article
Issue Date
2013
Citation
전자공학회논문지, v.50, no.1, pp.131 - 136
Publisher
대한전자공학회
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