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SCIE
SCOPUS
Resist pattern collapse with top rounding resist profile
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Lee, Hyung-Joo; Park, Jun-Teak; Yoo, Ji-Yong; An, Ilsin; Oh, Hye-Keun
Article
Issue Date
2003
Citation
Japanese Journal of Applied Physics, v.42, no.6B, pp 3922 - 3927
Publisher
IOP Publishing Ltd
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