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다중 전원 영역 기반 SoC의 모듈러 스캔 테스트를 위한 IEEE std. 1149.1-2013 기반의 테스트 전원 제어 기술
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| DC Field | Value | Language |
|---|---|---|
| dc.contributor.author | 박성주 | - |
| dc.contributor.author | 김영성 | - |
| dc.contributor.author | 김두영 | - |
| dc.contributor.author | 정지훈 | - |
| dc.contributor.author | 김진욱 | - |
| dc.date.accessioned | 2025-04-01T09:02:00Z | - |
| dc.date.available | 2025-04-01T09:02:00Z | - |
| dc.date.issued | 2017-02 | - |
| dc.identifier.uri | https://scholarworks.bwise.kr/erica/handle/2021.sw.erica/123118 | - |
| dc.language | 한국어 | - |
| dc.language.iso | KOR | - |
| dc.title | 다중 전원 영역 기반 SoC의 모듈러 스캔 테스트를 위한 IEEE std. 1149.1-2013 기반의 테스트 전원 제어 기술 | - |
| dc.type | Conference | - |
| dc.citation.title | 한국반도체학술대회 | - |
| dc.citation.startPage | 1 | - |
| dc.citation.endPage | 2 | - |
| dc.citation.conferencePlace | 대한민국 | - |
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Collections - COLLEGE OF COMPUTING > SCHOOL OF COMPUTER SCIENCE > 2. Conference Papers
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