Data Margin impact of the 800Mhz DDR3 DIMM pad wear

Abstract

현재 가장 큰 시장을 형성하고 있는 메모리 소자는 DRAM이다. 많이 사용하고 오래 사용할수록 모든 기 기는 손상되기 마련이다. 그런 만큼 메모리의 손상과 그에 따른 Data의 변화에 신경을 써야한다. 본 논문 에서는 DIMM pad의 손상에 따른 DQ파형의 변화를 보여준다. DIMM pad를 여러 가지 방법으로 손상시키 고 DQ파형을 보내어 오실로스코프의 Eye diagram을 통해 Jitter, Eye opening, Rising time을 분석해 나갔다. 이런 Data변화의 해석을 통해서 손상에 따른 data변화를 막는 연구에 도움이 될 것이다.