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Frequency-ordered 기반 FDR 테스트패턴 압축 알고리즘FDR Test Compression Algorithm based on Frequency-ordered
- Other Titles
- FDR Test Compression Algorithm based on Frequency-ordered
- Issue Date
- May-2014
- Publisher
- 대한전자공학회
- Keywords
- Test Pattern Compression; FDR Algorithm
- Citation
- 전자공학회논문지, v.51, no.5, pp.106 - 113
- Indexed
- KCI
- Journal Title
- 전자공학회논문지
- Volume
- 51
- Number
- 5
- Start Page
- 106
- End Page
- 113
- ISSN
- 2287-5026
- Abstract
- 최근 반도체 업계에서 주요 관심사로 떠오르고 있는 SOC(System-on-a-chip) 테스트는 비용 및 시간 절감을 위해 여러 종류의 FDR(Frequency-directed run-length) 기술이 제안되었다. 기존의 FDR보다 압축률을 향상시키는 EFDR(Extended-FDR)과 SAFDR(Shifted-Alternate-FDR), VPDFDR(Variable Prefix Dual-FDR)이 있다. 본 논문에서는 제안한 Frequency-ordered 방식은 FDR, EFDR, SAFDR, VPDFDR에 적용시켜 상당한 압축률 개선을 보인다. 본 기술을 사용하면 압축률을 극대화할 수 있고, 결과적으로 전체적인 양산 테스트 비용 및 시간을 크게 절감할 수 있게 한다.
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