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Crosstalk 고장 점검을 위한 효과적인 연결선 테스트 패턴 생성 알고리즘에 관한 연구An Efficient Interconnect Test Pattern Generation Algorithm for Crosstalk Faults
- Other Titles
- An Efficient Interconnect Test Pattern Generation Algorithm for Crosstalk Faults
- Issue Date
- Dec-2007
- Publisher
- 대한전자공학회
- Keywords
- Crosstalk; Fault Model; Interconnect Test; Crosstalk; Fault Model; Interconnect Test
- Citation
- 전자공학회논문지 - SD, v.44, no.12, pp.71 - 76
- Indexed
- KCI
- Journal Title
- 전자공학회논문지 - SD
- Volume
- 44
- Number
- 12
- Start Page
- 71
- End Page
- 76
- ISSN
- 1229-6368
- Abstract
- 고성능의 칩을 설계함에 있어 연결선 사이의 크로스토크 고장은 무시할 수 없는 요인이 되었다. 본 논문에서는 칩 및 보드 레벨에서의 연결선 테스트를 위한 효과적인 테스트 패턴 알고리즘을 제시한다. 크로스토크 고장 점검율이 100%인 기존 6n 알고리즘을 분석하고 실질적으로 크로스토크 영향을 주는 net를 고려하여 보다 적은 패턴으로 동일한 고장 점검율을 얻는 새로운 알고리즘을 제안한다.
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