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저전력 스캔 테스트 데이터 압축을 위한 혼성압축 기법
- Authors
- 박성주
- Issue Date
- Jun-2006
- Publisher
- 한국 테스트 협회
- Citation
- 제 7회 한국 테스트 학술대회
- Indexed
- OTHER
- Journal Title
- 제 7회 한국 테스트 학술대회
- Abstract
- SoC 상에서 저전력 스캔 테스트 데이터 압축을 위한 혼성 압축 기법
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- Appears in
Collections - COLLEGE OF COMPUTING > SCHOOL OF COMPUTER SCIENCE > 1. Journal Articles
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