Efficient Interconnect Test Patterns and BIST Implementation for Crosstalk and Static Faults

Abstract

본 논문은 보드 또는 SoC 상에서 코아와 코아 사이의 연결선 고장 점검을 위한 효과적인 테스트 패턴 알고리즘과 테스트 패턴 생성기를 소개한다. 연결선 고장 모델 분석을 통해 crosstalk과 정적인 고장을 100% 점검할 수 있는 6n 패턴 알고리즘을 소개한다. 보다 적은 4n+1 개의 패턴으로 100%에 가까운 고장 점검율을 얻으면서 crosstalk 뿐 아니라 정적고장의 검출 및 진단도 가능한 알고리즘을 제안하고, 효과적인 BIST구현 기술에 대하여 소개한다.

This paper presents effective test patterns and their BIST implementations for SoC and Board interconnects. Initially '6n' algorithm, where 'n' is the total number of interconnect nets, is introduced to completely detect and diagnose both static and crosstalk faults. Then, more economic '4n+1' algorithm is described to perfectly capture the crosstalk faults for the interconnect nets separated within a certain distance. It will be shown that both algorithms can be easily implemented as interconnect BIST hardwares with small area penalty than conventional LFSR.