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Efficient Interconnect Test Patterns and BIST Implementation for Crosstalk and Static Faults

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dc.contributor.authorMin, Piljae-
dc.contributor.authorMin, Pyoungwoo-
dc.contributor.authorYi, Hyunbean-
dc.contributor.authorPark, Sungju-
dc.date.accessioned2021-06-23T23:38:00Z-
dc.date.available2021-06-23T23:38:00Z-
dc.date.created2021-02-18-
dc.date.issued2005-05-
dc.identifier.urihttps://scholarworks.bwise.kr/erica/handle/2021.sw.erica/45949-
dc.description.abstract본 논문은 보드 또는 SoC 상에서 코아와 코아 사이의 연결선 고장 점검을 위한 효과적인 테스트 패턴 알고리즘과 테스트 패턴 생성기를 소개한다. 연결선 고장 모델 분석을 통해 crosstalk과 정적인 고장을 100% 점검할 수 있는 6n 패턴 알고리즘을 소개한다. 보다 적은 4n+1 개의 패턴으로 100%에 가까운 고장 점검율을 얻으면서 crosstalk 뿐 아니라 정적고장의 검출 및 진단도 가능한 알고리즘을 제안하고, 효과적인 BIST구현 기술에 대하여 소개한다.-
dc.language영어-
dc.language.isoen-
dc.publisher대한전자공학회-
dc.titleEfficient Interconnect Test Patterns and BIST Implementation for Crosstalk and Static Faults-
dc.typeArticle-
dc.contributor.affiliatedAuthorPark, Sungju-
dc.identifier.bibliographicCitation대한전자공학회 학술대회 2005년도 SoC 학술대회, pp.248 - 253-
dc.relation.isPartOf대한전자공학회 학술대회 2005년도 SoC 학술대회-
dc.citation.title대한전자공학회 학술대회 2005년도 SoC 학술대회-
dc.citation.startPage248-
dc.citation.endPage253-
dc.type.rimsART-
dc.description.journalClass3-
dc.description.isOpenAccessN-
dc.description.journalRegisteredClassother-
dc.subject.keywordAuthorInterconnect BIST-
dc.subject.keywordAuthorCrosstalk-
dc.subject.keywordAuthorTest Pattern-
dc.subject.keywordAuthorDFT-
dc.subject.keywordAuthorSoC-
dc.identifier.urlhttps://www.dbpia.co.kr/journal/articleDetail?nodeId=NODE01731681-
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