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Crosstalk과 정적 고장을 고려한 효과적인 연결선 테스트 알고리즘 및 BIST 구현
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| DC Field | Value | Language |
|---|---|---|
| dc.contributor.author | 민병우 | - |
| dc.contributor.author | 박성주 | - |
| dc.contributor.author | 이현빈 | - |
| dc.contributor.author | 송재훈 | - |
| dc.date.accessioned | 2021-06-24T00:04:37Z | - |
| dc.date.available | 2021-06-24T00:04:37Z | - |
| dc.date.created | 2021-02-01 | - |
| dc.date.issued | 2005-07 | - |
| dc.identifier.issn | 1229-6368 | - |
| dc.identifier.uri | https://scholarworks.bwise.kr/erica/handle/2021.sw.erica/46311 | - |
| dc.description.abstract | 본 논문은 보드 또는 SoC 상에서 코아와 코아 사이의 연결선 고장 점검을 위한 효과적인 테스트 패턴 알고리즘과 테스트 패턴 생성기를 소개한다. 연결선 고장 모델 분석을 통해 crosstalk과 정적인 고장을 100% 점검할 수 있는 6n 패턴 알고리즘을 소개한다. 보다 적은 4n+1 개의 패턴으로 100%에 가까운 고장 점검율을 얻으면서 crosstalk 뿐 아니라 정적고장의 검출 및 진단도 가능한 알고리즘을 제안하고, 효과적인 BIST구현 기술에 대하여 소개한다. | - |
| dc.language | 한국어 | - |
| dc.language.iso | ko | - |
| dc.publisher | 대한전자공학회 | - |
| dc.title | Crosstalk과 정적 고장을 고려한 효과적인 연결선 테스트 알고리즘 및 BIST 구현 | - |
| dc.title.alternative | Efficient Interconnect Test Patterns and BIST Implementation for Crosstalk and Static Faults | - |
| dc.type | Article | - |
| dc.contributor.affiliatedAuthor | 박성주 | - |
| dc.identifier.bibliographicCitation | 전자공학회논문지 - SD, v.42, no.7, pp.475 - 482 | - |
| dc.relation.isPartOf | 전자공학회논문지 - SD | - |
| dc.citation.title | 전자공학회논문지 - SD | - |
| dc.citation.volume | 42 | - |
| dc.citation.number | 7 | - |
| dc.citation.startPage | 475 | - |
| dc.citation.endPage | 482 | - |
| dc.type.rims | ART | - |
| dc.identifier.kciid | ART001181398 | - |
| dc.description.journalClass | 2 | - |
| dc.description.isOpenAccess | N | - |
| dc.description.journalRegisteredClass | kci | - |
| dc.subject.keywordAuthor | interconnect testing | - |
| dc.subject.keywordAuthor | crosstalk faults | - |
| dc.subject.keywordAuthor | test pattern generator | - |
| dc.subject.keywordAuthor | BIST | - |
| dc.subject.keywordAuthor | SoC | - |
| dc.subject.keywordAuthor | static faults | - |
| dc.subject.keywordAuthor | interconnect testing | - |
| dc.subject.keywordAuthor | crosstalk faults | - |
| dc.subject.keywordAuthor | test pattern generator | - |
| dc.subject.keywordAuthor | BIST | - |
| dc.subject.keywordAuthor | SoC | - |
| dc.subject.keywordAuthor | static faults | - |
| dc.identifier.url | https://www.dbpia.co.kr/journal/articleDetail?nodeId=NODE00609639 | - |
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