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Crosstalk과 정적 고장을 고려한 효과적인 연결선 테스트 알고리즘 및 BIST 구현Efficient Interconnect Test Patterns and BIST Implementation for Crosstalk and Static Faults
- Other Titles
- Efficient Interconnect Test Patterns and BIST Implementation for Crosstalk and Static Faults
- Issue Date
- Jul-2005
- Publisher
- 대한전자공학회
- Keywords
- interconnect testing; crosstalk faults; test pattern generator; BIST; SoC; static faults; interconnect testing; crosstalk faults; test pattern generator; BIST; SoC; static faults
- Citation
- 전자공학회논문지 - SD, v.42, no.7, pp.475 - 482
- Indexed
- KCI
- Journal Title
- 전자공학회논문지 - SD
- Volume
- 42
- Number
- 7
- Start Page
- 475
- End Page
- 482
- ISSN
- 1229-6368
- Abstract
- 본 논문은 보드 또는 SoC 상에서 코아와 코아 사이의 연결선 고장 점검을 위한 효과적인 테스트 패턴 알고리즘과 테스트 패턴 생성기를 소개한다. 연결선 고장 모델 분석을 통해 crosstalk과 정적인 고장을 100% 점검할 수 있는 6n 패턴 알고리즘을 소개한다. 보다 적은 4n+1 개의 패턴으로 100%에 가까운 고장 점검율을 얻으면서 crosstalk 뿐 아니라 정적고장의 검출 및 진단도 가능한 알고리즘을 제안하고, 효과적인 BIST구현 기술에 대하여 소개한다.
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Collections - COLLEGE OF COMPUTING > SCHOOL OF COMPUTER SCIENCE > 1. Journal Articles
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