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Jiao, W.; Atwal, G.; Polak, P.; Karlic, R.; Cuppen, E.; Al-Shahrour, F.; Atwal, G.; Bailey, P.J.; Biankin, A.V.; Boutros, P.C., et al.
Plitt, Anna; Ezekowitz, Michael D.; De Caterina, Raffaele; Nordio, Francesco; Peterson, Nancy; Giugliano, Robert P.; Vogelmann, O.; Gonzalez, C.; Ahuad Guerrero, R.; Rodriguez, M., et al.
Giugliano, Robert P.; Ruff, Christian T.; Rost, Natalia S.; Silverman, Scott; Wiviott, Stephen D.; Lowe, Cheryl; Deenadayalu, Naveen; Murphy, Sabina A.; Grip, Laura T.; Betcher, Joshua M., et al.
Shuai, S.; Abascal, F.; Amin, S.B.; Bader, G.D.; Bandopadhayay, P.; Barenboim, J.; Beroukhim, R.; Bertl, J.; Boroevich, K.A.; Brunak, S., et al.
Bhandari, V.; Li, C.H.; Bristow, R.G.; Boutros, P.C.; Aaltonen, L.A.; Abascal, F.; Abeshouse, A.; Aburatani, H.; Adams, D.J.; Agrawal, N., et al.
Carnicelli, Anthony P.; De Caterina, Raffaele; Halperin, Jonathan L.; Renda, Giulia; Ruff, Christian T.; Trevisan, Marco; Nordio, Francesco; Mercuri, Michele F.; Antman, Elliott; Giugliano, Robert P., et al.
Giugliano, Robert P.; Ruff, Christian T.; Braunwald, Eugene; Murphy, Sabina A.; Wiviott, Stephen D.; Halperin, Jonathan L.; Waldo, Albert L.; Ezekowitz, Michael D.; Weitz, Jeffrey I.; Spinar, Jindrich, et al.
Sieverling, L.; Hong, C.; Koser, S.D.; Ginsbach, P.; Kleinheinz, K.; Hutter, B.; Braun, D.M.; Cortés-Ciriano, I.; Xi, R.; Kabbe, R., et al.
Zhang, Y.; Chen, F.; Fonseca, N.A.; He, Y.; Fujita, M.; Nakagawa, H.; Zhang, Z.; Brazma, A.; Amin, S.B.; Awadalla, P., et al.
Wang, Kaijun; Li, Haiyan; Kwong, Winghan J.; Antman, Elliott M.; Ruff, Christian T.; Giugliano, Robert P.; Cohen, David J.; Magnuson, Elizabeth A.; Vogelmann, O.; Gonzalez, C., et al.
Cmero, M.; Yuan, K.; Ong, C.S.; Schröder, J.; Adams, D.J.; Anur, P.; Beroukhim, R.; Boutros, P.C.; Bowtell, D.D.L.; Campbell, P.J., et al.
Paczkowska, M.; Barenboim, J.; Sintupisut, N.; Fox, N.S.; Zhu, H.; Abd-Rabbo, D.; Mee, M.W.; Boutros, P.C.; Abascal, F.; Amin, S.B., et al.
Cao, Z.; Sun, C.; Wang, W.; Zheng, X.; Wu, J.; Gao, H.
Rost, Natalia S.; Giugliano, Robert P.; Ruff, Christian T.; Murphy, Sabina A.; Crompton, Andrea E.; Norden, Andrew D.; Silverman, Scott; Singhal, Aneesh B.; Nicolau, Jose C.; SomaRaju, Bhupathi, et al.
Reyna, M.A.; Haan, D.; Paczkowska, M.; Verbeke, L.P.C.; Vazquez, M.; Kahraman, A.; Pulido-Tamayo, S.; Barenboim, J.; Wadi, L.; Dhingra, P., et al.
Rubanova, Y.; Shi, R.; Harrigan, C.F.; Li, R.; Wintersinger, J.; Sahin, N.; Deshwar, A.G.; Dentro, S.C.; Leshchiner, I.; Gerstung, M., et al.
Bailey, M.H.; Meyerson, W.U.; Dursi, L.J.; Wang, L.-B.; Dong, G.; Liang, W.-W.; Weerasinghe, A.; Li, S.; Kelso, S.; Akbani, R., et al.
Bailey, M.H.; Meyerson, W.U.; Dursi, L.J.; Wang, L.-B.; Dong, G.; Liang, W.-W.; Weerasinghe, A.; Li, S.; Li, Y.; Kelso, S., et al.
Li, C.H.; Prokopec, S.D.; Sun, R.X.; Yousif, F.; Schmitz, N.; Al-Shahrour, F.; Atwal, G.; Bailey, P.J.; Biankin, A.V.; Boutros, P.C., et al.
Link, Mark S.; Giugliano, Robert P.; Ruff, Christian T.; Scirica, Benjamin M.; Huikuri, Heikke; Oto, Ali; Crompton, Andrea E.; Murphy, Sabina A.; Lanz, Hans; Mercuri, Michele F., et al.
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