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Point Matching Method를 이용한 접지된 유전체층 위의 저항띠 격자구조에 의한 TE 산란 해석Analysis of TE Scattering by a Resistive Strip Grating Over a Grounded Dielectric Layer Using Point Matching Method
- Other Titles
- Analysis of TE Scattering by a Resistive Strip Grating Over a Grounded Dielectric Layer Using Point Matching Method
- Authors
- 윤의중
- Issue Date
- 2014
- Publisher
- 한국항행학회
- Keywords
- TE scattering; Resistive boundary condition; Point matching method; Fourier Galerkin moment method
- Citation
- 한국항행학회논문지, v.18, no.4, pp.371 - 375
- Journal Title
- 한국항행학회논문지
- Volume
- 18
- Number
- 4
- Start Page
- 371
- End Page
- 375
- ISSN
- 1226-9026
- Abstract
- 본 논문에서는 접지된 유전체층 위의 저항띠 격자구조에 의한 TE (transverse electric)산란 문제를 전자파 수치해석 방법으로 알려진 PMM (point matching method)를 이용하여 해석하였다. 경계조건들은 미지의 계수를 구하기 위하여 이용하였고, 저항 경계조건은 저항띠 위의 접선성분의 자계와 표면전류밀도와의 관계를 위해 적용하였고, 저항띠에 유도되는 전류밀도는 저항띠 영역의 두 경계면에서 자계의 차이에 의해 계산하였다. 저항띠의 표면에 유도 전류 밀도는 자계의 두 경계면의 위와 아래 차이에 의해 계산하였다. 저항띠의 균일저항율, 폭과 주기, 유전층의 비유전율과 두께 및 입사각에 대해 정규화된 기하광학적 반사전력을 계산하였다. 수치결과들은 기존의 FGMM (fourier galerkin moment method)를 이용한 수치해석 결과들과 비교하여 매우 잘 일치하였다.
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Collections - 보건과학대학 > 의용생체공학과 > 1. Journal Articles
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