Detailed Information

Cited 0 time in webofscience Cited 0 time in scopus
Metadata Downloads

PMM을 이용한 2중 유전체층 사이의 저항띠 격자구조에 의한 TE 산란에 관한 연구A Study on TE Scattering by a Resistive Strip Grating Between a Double Dielectric Layer Using PMM

Other Titles
A Study on TE Scattering by a Resistive Strip Grating Between a Double Dielectric Layer Using PMM
Authors
윤의중
Issue Date
2019
Publisher
한국인터넷방송통신학회
Keywords
TE scattering; Conductive boundary condition; double dielectric layer.
Citation
한국인터넷방송통신학회 논문지, v.19, no.4, pp.21 - 26
Journal Title
한국인터넷방송통신학회 논문지
Volume
19
Number
4
Start Page
21
End Page
26
URI
https://scholarworks.bwise.kr/gachon/handle/2020.sw.gachon/2340
ISSN
2289-0238
Abstract
본 논문에서는 2중 유전체층 사이의 저항띠 격자구조에 의한 TE(transverse electric) 산란 문제는 전자파 수치해석 방법으로 알려진 PMM(point matching method)를 이용하여 해석하였다. 경계조건들은 미지의 계수를 구하기위하여 이용하였고, 산란 전자계는 Floquet 모드 함수의 급수로 전개하였고, 저항띠의 해석을 위해 저항 경계조건을적용하였다. 저항띠의 폭과 주기, 2중 유전층 사이의 비유전율, 두께, 입사각 및 균일저항율에 대해 정규화된 반사과 투과전력을 계산하였다. 전반적으로, 도체 스트립에 대한 반사 전력은 비유전율의 값이 증가함에 따라 증가하였고, 균일저항율을 갖는 저항띠에 대한 반사 전력은 저항율의 값이 증가함에 따라 감소하였다. 본 논문의 제안된 구조에 대한수치결과들은 기존 논문의 수치해석 결과들과 비교하여 매우 잘 일치하였다.
Files in This Item
There are no files associated with this item.
Appears in
Collections
보건과학대학 > 의용생체공학과 > 1. Journal Articles

qrcode

Items in ScholarWorks are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.

Related Researcher

Researcher Yoon, Uei Joong photo

Yoon, Uei Joong
College of IT Convergence (의공학과)
Read more

Altmetrics

Total Views & Downloads

BROWSE