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접지된 2중 유전체층 사이의 완전도체띠 격자구조에 의한 TE 산란에 관한 연구A Study on TE Scattering by a Conductive Strip Grating between Grounded Double Dielectric Layer
- Other Titles
- A Study on TE Scattering by a Conductive Strip Grating between Grounded Double Dielectric Layer
- Authors
- 윤의중
- Issue Date
- 2016
- Publisher
- 한국인터넷방송통신학회
- Keywords
- TE scattering; Conductive boundary condition; grounded double dielectric layer.
- Citation
- 한국인터넷방송통신학회 논문지, v.16, no.4, pp.153 - 158
- Journal Title
- 한국인터넷방송통신학회 논문지
- Volume
- 16
- Number
- 4
- Start Page
- 153
- End Page
- 158
- ISSN
- 2289-0238
- Abstract
- 본 논문에서는 접지된 2중 유전체층 사이의 완전도체띠 격자구조에 의한 TE(transverse electric) 산란문제를 전자파 수치해석 방법으로 알려진 PMM(point matching method)을 이용하여 해석하였다. 경계조건들은 미지의 계수를 구하기 위하여 이용하였고 산란 전자계는 Floquet 모드 함수의 급수로 전개하였으며, 도체띠의 해석을 위해 완전도체 경계조건을 적용하였다. 완전도체띠의 폭과 주기, 접지된 2중 유전체층의 비유전율과 두께 및 입사각에 대해 정규화된 반사전력을 계산하였다. 최소값을 가지는 변곡점들의 대부분의 반사전력은 입사각 이외의 다른 방향으로 산란된다. 접지된 2중 유전체층을 가지는 제안된 구조에 대한 수치결과들은 기존 논문의 수치해석 결과들과 비교하여 매우 잘 일치하였다.
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Collections - 보건과학대학 > 의용생체공학과 > 1. Journal Articles
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- Yoon, Uei Joong
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