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HVPE 법을 활용한 GaN 성장 시 질화처리에 관한 연구A study on the nitridation of GaN crystal growth by HYPE method

Other Titles
A study on the nitridation of GaN crystal growth by HYPE method
Authors
이승훈이주형이희애오누리이성철강효상이성국양재득박재화
Issue Date
Aug-2019
Publisher
KOREAN ASSOC CRYSTAL GROWTH, INC
Keywords
Gallium nitiride; HVPE; Nitridation; Surface morphology; Hillock
Citation
JOURNAL OF THE KOREAN CRYSTAL GROWTH AND CRYSTAL TECHNOLOGY, v.29, no.4, pp.149 - 153
Indexed
KCI
Journal Title
JOURNAL OF THE KOREAN CRYSTAL GROWTH AND CRYSTAL TECHNOLOGY
Volume
29
Number
4
Start Page
149
End Page
153
URI
https://scholarworks.bwise.kr/hanyang/handle/2021.sw.hanyang/147398
DOI
10.6111/JKCGCT.2019.29.4.149
ISSN
1225-1429
Abstract
HVPE는 GaN 단결정의 제조 방법 중 하나로 빠른 성장 속도가 장점인 상업적으로 널리 사용되는 성장 방법이 다. HVPE 법에 의한 GaN 단결정 성장은 여러 공정으로 이루어지며, 특히 GaN 성장 전 기판의 질화 처리는 성장되는 GaN 단결정 품질에 상당한 영향을 미친다. 본 연구에서는 사파이어 기판 위에 GaN 단결정 성장 시 기판의 질화처리가 성 장되는 GaN 단결정 품질에 미치는 영향을 알아보고자 하였다. 질화 처리를 제외한 다른 성장 조건은 동일하게 하였고 질 화처리 시 기판에 공급되는 가스 유량을 다양하게 변화시킨 후 GaN 박막을 성장시키고, 성장된 GaN의 표면 특성평가를 통하여, HVPE 법에서의 질화처리 효과를 고찰하여 보고자 하였다.
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Yi, Sung Chul
COLLEGE OF ENGINEERING (DEPARTMENT OF CHEMICAL ENGINEERING)
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