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엑스선 현미경을 이용한 프린팅 전극 질량 검사 기법
- Issue Date
- Apr-2019
- Publisher
- 대한방사선방어학회
- Keywords
- 질량; 반도체; 검사; 엑스선; 현미경
- Citation
- 2019년도 대한방사선방어학회 춘계 학술발표회 논문요약집, pp.284 - 285
- Indexed
- OTHER
- Journal Title
- 2019년도 대한방사선방어학회 춘계 학술발표회 논문요약집
- Start Page
- 284
- End Page
- 285
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Collections - 서울 공과대학 > 서울 원자력공학과 > 1. Journal Articles
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Related Researcher
- Kim, Yong Kyun
- COLLEGE OF ENGINEERING (DEPARTMENT OF NUCLEAR ENGINEERING)