다이아몬드 FETs에서 전기적 바이어스 방법을 이용한 단일염기 다형성(SNPs) 검출Detection of SNPs using electrical biased method on diamond FETs
- Other Titles
- Detection of SNPs using electrical biased method on diamond FETs
- Authors
- 송광섭
- Issue Date
- 2015
- Publisher
- 대한전자공학회
- Keywords
- 다이아몬드 필름; 전계효과 트랜지스터(FETs); 전하검출형; DNA; SNPs
- Citation
- 전자공학회논문지, v.52, no.3, pp.190 - 196
- Journal Title
- 전자공학회논문지
- Volume
- 52
- Number
- 3
- Start Page
- 190
- End Page
- 196
- URI
- https://scholarworks.bwise.kr/kumoh/handle/2020.sw.kumoh/19178
- ISSN
- 2287-5026
- Abstract
- 돌연변이 및 유전병의 원인이 되고 있는 유전자 단일염기 다형성(single nucleotide polymorphisms; SNPs) 검출은 조기진단, 치료 및 제약등 바이오관련 분야에서 매우 중요하다. SNPs 검출을 위한 방법은 다양하게 제시되고 있으나 상보적 DNA와SNPs의 에너지 차이가 미세하여 SNPs 검출에는 많은 어려움이 존재한다. 본 논문에서는 SNPs를 검출하기 위하여 전하 검출형 전계효과 트랜지스터(field-effect transistors; FETs)를 이용하여 DNA가 가지고 있는 음전하 측정 방법으로 SNPs를 검출하였다. 상보적 DNA와 SNPs의 미세한 에너지 차이를 구분하기 위하여 타게트 DNA hybridization공정에서 드레인-소스 전극에 -0.3 V의 음전압을 인가하였다. 음전압 인가에 따라 DNA 자체 음전하와 센서 표면의 음전압의 전기적 반발력에 의해 센서에 검출되는 타게트 DNA hybridization 신호 크기는 감소하였으나 상보적 DNA와 SNPs의 신호 차는 1.7 ㎷에서 8.7 ㎷로 5 배 이상 증가하여 검출되었다.
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