측면조명을 이용한 LCD 백라이트 불량검출 시스템LCD BLU Defects Detection System with Sidelight
- Other Titles
- LCD BLU Defects Detection System with Sidelight
- Authors
- 신윤식; 문창배; 박지웅; 이해연; 김병만
- Issue Date
- 2010
- Publisher
- 한국정보처리학회
- Keywords
- CCFL 형광체; 물리적 촬영환경; 불량판별 알고리즘; CCFL Fluorescent Substance; Shooting Environment; Defects Detection Algorithm
- Citation
- 정보처리학회논문지. 소프트웨어 및 데이터 공학, v.17, no.6, pp.445 - 458
- Journal Title
- 정보처리학회논문지. 소프트웨어 및 데이터 공학
- Volume
- 17
- Number
- 6
- Start Page
- 445
- End Page
- 458
- URI
- https://scholarworks.bwise.kr/kumoh/handle/2020.sw.kumoh/2786
- ISSN
- 2287-5905
- Abstract
- LCD 모니터의 백라이트로 CCFL 형광체를 많이 사용하고 있으나 그 불량여부는 육안에 의존하고 있다. 육안 검사를 함으로써 부품에 대한 일관성 있는 검사가 결여되고, 노동집약적인 검사로 인해 산업적 재해가 발생할 수 있다. 따라서, CCFL 불량유무를 자동으로 판별하기 위해서 물리적 촬영 환경과 영상처리 알고리즘은 중요하다. 본 논문에서는 CCFL 형광체를 자동으로 검사하기 위한 촬영환경 중 다섯 가지 조건과 세 가지조건 중 두 조건모두에서 사용되는 측면 촬영환경에서 획득한 영상을 이용하여 불량을 판별하기 위한 알고리즘을 제시하였다. 불량을 포함한 CCFL 형광체와 정상시료를 사용하여 영상 획득 및 실험을 수행하였고, 그 결과 제안한 촬영환경과 알고리즘은 과검율 4.65 %와 유출률 5.37 %의 성능을 보인다.
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