내장 메모리 자가 복구를 위한 여분의 메모리 분석 알고리즘
DC Field | Value | Language |
---|---|---|
dc.contributor.author | 심은성 | - |
dc.contributor.author | 장훈 | - |
dc.date.available | 2018-05-10T16:51:42Z | - |
dc.date.created | 2018-04-17 | - |
dc.date.issued | 2007-02 | - |
dc.identifier.issn | 1229-6368 | - |
dc.identifier.uri | http://scholarworks.bwise.kr/ssu/handle/2018.sw.ssu/18181 | - |
dc.description.abstract | 최근 VLSI 회로 직접도가 급속도로 증가함에 따라 하나의 시스템 칩에 고밀도와 고용량의 내장 메모리가 구현되고 있다. 고장난 메모리를 여분의 메모리로 재배치함으로써 메모리 수율 향상과 사용자에게 메모리를 투명하게 사용할 수 있도록 제공할 수 있다. 본 논문에서는 고장난 메모리 부분을 여분의 행과 열 메모리 사용으로 고장난 메모리를 고장이 없는 메모리처럼 사용할 수 있도록 여분의 메모리 재배치 알고리즘을 제안하고자 한다. | - |
dc.language | 한국어 | - |
dc.language.iso | ko | - |
dc.publisher | 대한전자공학회 | - |
dc.relation.isPartOf | 전자공학회논문지 - SD | - |
dc.subject | BIRA | - |
dc.subject | BISR | - |
dc.subject | Embedded Memory(202) | - |
dc.subject | BIRA | - |
dc.subject | BISR | - |
dc.subject | Embedded Memory(202) | - |
dc.title | 내장 메모리 자가 복구를 위한 여분의 메모리 분석 알고리즘 | - |
dc.title.alternative | Built-In Redundancy Analysis Algorithm for Embedded Memory Built-In Self Repair with 2-D Redundancy | - |
dc.type | Article | - |
dc.type.rims | ART | - |
dc.identifier.bibliographicCitation | 전자공학회논문지 - SD, v.44, no.2, pp.113 - 120 | - |
dc.identifier.kciid | ART001046045 | - |
dc.description.journalClass | 2 | - |
dc.citation.endPage | 120 | - |
dc.citation.number | 2 | - |
dc.citation.startPage | 113 | - |
dc.citation.title | 전자공학회논문지 - SD | - |
dc.citation.volume | 44 | - |
dc.contributor.affiliatedAuthor | 장훈 | - |
dc.identifier.url | https://www.kci.go.kr/kciportal/ci/sereArticleSearch/ciSereArtiView.kci?sereArticleSearchBean.artiId=ART001046045 | - |
dc.description.isOpenAccess | N | - |
dc.subject.keywordAuthor | BIRA | - |
dc.subject.keywordAuthor | BISR | - |
dc.subject.keywordAuthor | Embedded Memory(202) | - |
dc.subject.keywordAuthor | BIRA | - |
dc.subject.keywordAuthor | BISR | - |
dc.subject.keywordAuthor | Embedded Memory(202) | - |
dc.description.journalRegisteredClass | kci | - |
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