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내장 메모리 자가 복구를 위한 여분의 메모리 분석 알고리즘Built-In Redundancy Analysis Algorithm for Embedded Memory Built-In Self Repair with 2-D Redundancy
- Other Titles
- Built-In Redundancy Analysis Algorithm for Embedded Memory Built-In Self Repair with 2-D Redundancy
- Issue Date
- Feb-2007
- Publisher
- 대한전자공학회
- Keywords
- BIRA; BISR; Embedded Memory(202); BIRA; BISR; Embedded Memory(202)
- Citation
- 전자공학회논문지 - SD, v.44, no.2, pp.113 - 120
- Journal Title
- 전자공학회논문지 - SD
- Volume
- 44
- Number
- 2
- Start Page
- 113
- End Page
- 120
- ISSN
- 1229-6368
- Abstract
- 최근 VLSI 회로 직접도가 급속도로 증가함에 따라 하나의 시스템 칩에 고밀도와 고용량의 내장 메모리가 구현되고 있다. 고장난 메모리를 여분의 메모리로 재배치함으로써 메모리 수율 향상과 사용자에게 메모리를 투명하게 사용할 수 있도록 제공할 수 있다. 본 논문에서는 고장난 메모리 부분을 여분의 행과 열 메모리 사용으로 고장난 메모리를 고장이 없는 메모리처럼 사용할 수 있도록 여분의 메모리 재배치 알고리즘을 제안하고자 한다.
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Related Researcher
- CHANG, HOON
- College of Information Technology (School of Computer Science and Engineering)