Showing results 257 to 276 of 283
Abbott, B. P.; Abbott, R.; Abbott, T. D.; Abernathy, M. R.; Acernese, F.; Ackley, K.; Adams, C.; Adams, T.; Addesso, P.; Adhikari, R. X., et al.
Abbott, B. P.; Abbott, R.; Abbott, T. D.; Abernathy, M. R.; Acernese, F.; Ackley, K.; Adams, C.; Adams, T.; Addesso, P.; Adhikari, R. X., et al.
An, J.; Yang, S.; Hwang, J.; Kim, J.; Kim, S.; Lim, C.; Oh, Y.; Kim, Y.; Lee, J.
Lim, B.-O.; Kim, J.; Kim, S.-H.; Cho, J.-H.; Lim, S.; Lim, S.-T.
Jung, K.; Kim, J.; Ha, Y.; Choi, C.; Chae, C.
Son, Y.M.; Kim, J.
Kim, J.; Lee, E.; Chang, B.S.; Oh, C.S.; Mun, G.-H.; Chung, Y.H.; Shin, D.H.
Abbott, B. P.; Abbott, R.; Abbott, T. D.; Abernathy, M. R.; Acernese, F.; Ackley, K.; Adams, C.; Adams, T.; Addesso, P.; Adhikari, R. X., et al.
Akutsu, T.; Ando, M.; Araya, A.; Aritomi, N.; Asada, H.; Aso, Y.; Atsuta, S.; Awai, K.; Barton, M.A.; Cannon, K., et al.
Kim, J.; Jang, K.S.; Le, T.T.G.; Lee, K.-S.; Ryu, J.
Adhikari, G.; Barbosa de Souza, E.; Carlin, N.; Choi, J.J.; Choi, S.; Ezeribe, A.C.; França, L.E.; Ha, C.; Hahn, I.S.; Hollick, S.J., et al.
Kim, J.; Jeong, M.; Park, K.; Lee, M.; Seo, S.
Kim, J.; Jeong, M.; Park, K.; Lee, M.; Seo, S.
Kim, Y.; Lee, S.R.; Kim, S.J.; Rosa, T.; Gong, Y.; Park, C.; Wang, J.; Park, K.; Kim, J.; Shin, D.
Park, C.; Seo, S.; Kim, J.; Kang, S.; Kim, B.; Choi, Y.; Lee, S.
Ko, P.; You, E.; Jeong, J.; Keum, S.; Lee, J.; Kim, J.; Rhee, S.
Kim, J.; Park, S.O.
Abbott, R.; Abbott, T. D.; Abraham, S.; Acernese, F.; Ackley, K.; Adams, A.; Adams, C.; Adhikari, R. X.; Adya, V. B.; Affeldt, C., et al.
Abbott, B.P.; Abbott, R.; Abbott, T.D.; Abernathy, M.R.; Acernese, F.; Ackley, K.; Adams, C.; Adams, T.; Addesso, P.; Adhikari, R.X., et al.
84, Heukseok-ro, Dongjak-gu, Seoul, Republic of Korea (06974)02-820-6194
COPYRIGHT 2019 Chung-Ang University All Rights Reserved.
Certain data included herein are derived from the © Web of Science of Clarivate Analytics. All rights reserved.
You may not copy or re-distribute this material in whole or in part without the prior written consent of Clarivate Analytics.