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OTHER
CAN 프로토콜을 이용한 칩 고장 진단 기술 개발
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황도연; 김두영; 문창민; 박성주
Article
Issue Date
2013
Citation
2013년 대한전자공학회 추계학술대회 논문집, pp.655 - 658
Publisher
대한전자공학회
OTHER
FlexRay를 이용한 자동차 신뢰성 향상 기법
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강승엽; 정지훈; 문창민; 박성주
Article
Issue Date
2013
Citation
2013년 대한전자공학회 추계학술대회 논문집, pp.697 - 700
Publisher
대한전자공학회
KCI
Frequency-ordered 기반 FDR 테스트패턴 압축 알고리즘
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문창민; 김두영; 박성주
Article
Issue Date
2014
Citation
전자공학회논문지, v.51, no.5, pp.106 - 113
Publisher
대한전자공학회
KCI
IEEE 1149.7 표준 테스트 인터페이스를 사용한 핀 수 절감 테스트 기술
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임명훈; 김두영; 문창민; 박성주
Article
Issue Date
2013
Citation
전자공학회논문지, v.50, no.9, pp.60 - 67
Publisher
대한전자공학회
OTHER
테스트 비용 절감을 위한 스캔체인 기반의 저전력 테스트 패턴 압축기술
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문창민; 김두영; 박성주
Article
Issue Date
2013
Citation
2013년 대한전자공학회 하계학술대회 논문집, v.36, no.1, pp.134 - 137
Publisher
대한전자공학회
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