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저비용 SoC 테스트를 위한 IEEE 1500 래퍼 및 테스트 제어IEEE 1500 Wrapper and Test Control for Low-Cost SoC Test
- Other Titles
- IEEE 1500 Wrapper and Test Control for Low-Cost SoC Test
- Issue Date
- Nov-2007
- Publisher
- 대한전자공학회
- Keywords
- Design for test; IEEE 1149.1; IEEE 1500; at-speed test; System-on-chip (969); Design for test; IEEE 1149.1; IEEE 1500; at-speed test; System-on-chip (969)
- Citation
- 전자공학회논문지 - SD, v.44, no.11, pp.65 - 73
- Indexed
- KCI
- Journal Title
- 전자공학회논문지 - SD
- Volume
- 44
- Number
- 11
- Start Page
- 65
- End Page
- 73
- ISSN
- 1229-6368
- Abstract
- 본 논문에서는 저비용 SoC 테스트를 위한 테스트 설계 기술에 대해서 다룬다. IEEE 1500 랩드 코어를 SoC TAP (Test Access Port) 을 통하여 스캔 테스트를 수행하는 방법을 제시하고, 지연고장 테스트를 위한 테스트 클럭 생성회로를 설계한다. TAP의 신호만을 이용하여 SoC 테스트를 수행함으로써 테스트 핀 수를 줄일 수 있고, SoC 내부의 회로를 사용하여 지연고장 테스트를 수행함으로써 저가의 테스트 장비를 사용할 수 있다. 실험을 통하여 제시한 방식의 효율성을 평가하고, 서로 다른 주파수의 클럭을 사용하는 여러 코어의 지연고장 테스트를 동시에 수행 할 수 있음을 확인한다
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- Appears in
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