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저전력 테스트 데이터 압축 개선을 위한 효과적인 기법An Efficient Technique to Improve Compession for Low-Power Scan Test Data
- Other Titles
- An Efficient Technique to Improve Compession for Low-Power Scan Test Data
- Issue Date
- Oct-2006
- Publisher
- 대한전자공학회
- Keywords
- test data compression; low power; scan test; soc test; test data compression; low power; scan test; soc test
- Citation
- 전자공학회논문지 - SD, v.43, no.10, pp.104 - 110
- Indexed
- KCI
- Journal Title
- 전자공학회논문지 - SD
- Volume
- 43
- Number
- 10
- Start Page
- 104
- End Page
- 110
- ISSN
- 1229-6368
- Abstract
- 오늘날 시스템 온 칩 테스트에 있어서 많은 양의 테스트 데이터, 시간 및 전력 소모는 매우 중요한 문제이다. 이러한 문제들을 해결하기 위해서 본 논문은 새로운 테스트 데이터 압축 기술을 제안한다. 우선, 테스트 큐브 집합에 있는 돈 캐어 비트에 저전력 테스트를 위한 비트할당을 한다. 그리고, 비트할당이 된 저전력 테스트 데이터의 압축효율을 높이기 위해 이웃 비트 배타적 논리합 변환을 사용하여 변환한다. 최종적으로, 변환된 테스트 데이터는 효과적으로 압축 됨으로써 테스트 장비의 저장 공간과 테스트 데이터 인가시간을 줄일 수 있게 된다.
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- Appears in
Collections - COLLEGE OF COMPUTING > SCHOOL OF COMPUTER SCIENCE > 1. Journal Articles
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