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Efficient Interconnect Test Patterns and BIST Implementation for Crosstalk and Static Faults
- Authors
- Min, Piljae; Min, Pyoungwoo; Yi, Hyunbean; Park, Sungju
- Issue Date
- May-2005
- Publisher
- 대한전자공학회
- Keywords
- Interconnect BIST; Crosstalk; Test Pattern; DFT; SoC
- Citation
- 대한전자공학회 학술대회 2005년도 SoC 학술대회, pp.248 - 253
- Indexed
- OTHER
- Journal Title
- 대한전자공학회 학술대회 2005년도 SoC 학술대회
- Start Page
- 248
- End Page
- 253
- Abstract
- 본 논문은 보드 또는 SoC 상에서 코아와 코아 사이의 연결선 고장 점검을 위한 효과적인 테스트 패턴 알고리즘과 테스트 패턴 생성기를 소개한다. 연결선 고장 모델 분석을 통해 crosstalk과 정적인 고장을 100% 점검할 수 있는 6n 패턴 알고리즘을 소개한다. 보다 적은 4n+1 개의 패턴으로 100%에 가까운 고장 점검율을 얻으면서 crosstalk 뿐 아니라 정적고장의 검출 및 진단도 가능한 알고리즘을 제안하고, 효과적인 BIST구현 기술에 대하여 소개한다.
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