Detailed Information
Cited 0 time in 
Cited 0 time in 
Cited 0 time in
Metadata Downloads
반도체 공정의 이상 감지를 위한 Data-depth 기반의 비모수 다변량 관리도 적용에 관한 연구
- Authors
- 배석주
- Issue Date
- 15-Nov-2013
- Place
- 성균관대, 수원
- Conference Name
- 대한산업공학회 추계학술대회
- Files in This Item
- There are no files associated with this item.
- Appears in
Collections - 서울 공과대학 > 서울 산업공학과 > 2. Conference Papers
Items in ScholarWorks are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.
Related Researcher
- Bae, Suk Joo
- COLLEGE OF ENGINEERING (DEPARTMENT OF INDUSTRIAL ENGINEERING)